有害元素光谱分析仪

 

应用领域

RAY系列产品被广泛应用于RoHS指令筛选检测、无卤指令筛选检测、玩具指令筛选检测、日用消费品中限制元素筛系列选检测、合金成分分析和土壤、污水重金属检测。

 

技术特点

分析方法及系统软件

分析方法配置：

基于蒙特卡洛计算模型的基本参数法

经验系数法

理论α系数法

 

软件功能描述：

RoHS指令、无卤指令等环保指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析

各种金属材料、无机非金属材料（不包括聚合物材料）的材质分析（S～U元素）

聚合物等有机材料中硫（S）～铀（U）元素的含量分析

分析报告的自主定制与输出打印

分析结果的保存、查询及统计

On-Line实时在线技术支持与技术服务功能

多层镀层厚度测量功能

 

产品参数

输入电压：220±5V/50Hz

消耗功率：≤500W

环境温度：15-30℃

环境湿度：≤80%

主机外形:500*500*440（mm）

重量：40公斤

 

主要配置

SDD硅漂移电制冷半导体探测器

侧窗钼（Mo）靶管

标配16组复合滤光片

配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四种准直器

具备符合中国国家标准的样品混侧功能

内置标准工作曲线

配置On-line实时在线技术支持与服务平台

具备开放工作曲线技术平台

分析软件操作系统分级管理

 

技术指标

元素种类：元素周期表中硫（S）～铀（U）之间元素

 

测量时间：

对聚合物材料，典型测量时间为30秒

对铜基体材料，典型测量时间为30秒

 

检出限指标（LOD）：

对聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg

对铜基体材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg

 

精密度指标，以连续测量7次的标准偏差σ表征：

对聚合物（塑胶）材料：LOD（Pb）≤15mg/Kg；LOD（Hg）≤15mg/Kg；LOD（TCr）≤15mg/Kg；LOD（TBr）≤15mg/Kg；LOD（Cd）≤7mg/Kg

对铜基体材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg

 

准确度指标，以系统偏差δ进行表征

对聚合物材料：δ（Pb）≤100mg/Kg; δ（Hg）≤100mg/Kg; δ（TBr）≤100mg/Kg; δ（TCr）≤100mg/Kg; δ（Cd）≤10mg/Kg

对铜基体材料：δ（Pb）≤150mg/Kg